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Ortenburg, Alemania - 26 de diciembre de 2016

Sensor de espesor de precisión, thicknessControl UTS 8X02.K

El nuevo sistema de medición de espesor thicknessControl UTS 8X02.K, de Micro-Epsilon, se basa en el principio de medición confocal, que nunca había sido empleado por ningún otro sistema.

Este sistema de medición, que presenta un marco en forma de C, trabaja muy bien con materiales rayados transparentes y semi transparentes, como hojas de plástico que no se pueden guiar sobre un rodillo, vidrio recubierto y metales pulidos. Gracias a la regulación del tiempo de exposición de los sensores confocales integrados se logran mediciones confiables, incluso en superficies cambiantes. La medición no requiere contacto y no genera ninguna reacción gracias al principio de medición cromática.

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Categoría de producto:
Sensores y transductores - Sensores
Palabras relacionadas:
medición de espesor, medición confocal, marco en C, materiales transparentes, materiales semi transparentes, hojas de plástico, medición sin contacto, medición sin reacción, principio cromático, metales pulidos.
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