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13 de febrero de 2019

Inspección de piezas por tomografía computarizada de rayos X

Carl Zeiss ofrece a la industria su nuevo sistema de metrología e inspección Metrotom, que escanea numerosas características de un componente de una sola pasada.

Tanto en Expomanufactura como en TECMA, Zeiss presenta Metrotom, un sistema industrial de tomografía computarizada ideal para trabajos de medición e inspección de manera eficaz con un solo escaneo de rayos X.

La aplicación del tomógrafo tiene beneficios como: aumento de la productividad, reducción de desperdicios y mediciones rápidas, principalmente para las empresas dedicadas a la fabricación de componentes de diversos materiales y que forman parte de los sectores automotor, fundición y plástico.

Con este sistema de tomografía computarizada se escanean numerosas características de un componente de una sola pasada. Las mediciones e imágenes resultantes son precisas y trazables. Comparado con el proceso de medición táctil, Zeiss Metrotom es más rápido en la captura de muchos puntos de medición.

Los escáneres CT de ZEISS realizan la totalidad de las inspecciones de componentes de plástico y de metal ligero en el piso de producción. Trabajan directamente en arduos entornos de producción, donde proporcionan automáticamente valoraciones buenas/malas para apartar componentes inservibles. Se pueden capturar y almacenar varias características diferentes de una pieza durante la inspección CT en serie.

El sistema garantiza una precisión de 4.5 μm +L/100, trae integrado el software Zeiss Metrotom OS que permite al usuario realizar tomografías a diversos componentes y ver el interior de los mismos, y es compatible con Zeiss Calypso y Zeiss PiWeb.

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Categoría de producto:
Otros equipos de instrumentación, control e inspección.
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