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12 de abril de 2019

Microscopios de rayos X con resolución submicrónica

Los modelos Xradia 610 y 620 Versa, que producen imágenes de forma rápida, son ideales para la industria electrónica y aplicaciones con semiconductores.

Zeiss presenta dos nuevos modelos avanzados de la familia Xradia: los microscopios de rayos X 610 y 620 Versa. Estos equipos se destacan por producir imágenes de forma rápida y no destructiva en muestras intactas, sin sacrificar la resolución y el contraste.

Los dos mayores desafíos en la tomografía computarizada por rayos X son mantener la resolución en muestras de gran tamaño, incluso a largas distancias de trabajo, y maximizar la resolución y el flujo de rayos para incrementar el rendimiento. Estas dos referencias responden a estos retos al proporcionar una fuente de rayos de alta potencia para un flujo significativamente mayor, lo que permite realizar exploraciones de tomografía de forma más ágil y, por tanto, duplicar el rendimiento, sin comprometer la resolución espacial.

Los modelos Xradia 610 y 620 Versa son ideales para la industria electrónica y aplicaciones con semiconductores, donde los usuarios normalmente realizan análisis estructurales y de fallas para el desarrollo de procesos, mejora de rendimiento y análisis de construcción de paquetes. En aplicaciones de manufactura aditiva, estos microscopios son ideales para estudios detallados de forma, tamaño y distribución del volumen de partículas en lechos de polvo para determinar los parámetros apropiados del proceso.

Este producto también es presentado en Hannover Messe 2019.

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Categoría de producto:
Equipo para laboratorio y pruebas analíticas - Microscopios ópticos - Microscopios
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